18600717106
產(chǎn)品分類
IM4000Ⅱ標準離子研磨儀使用低能量Ar離子束，加工無應(yīng)力損傷的樣品截面，為SEM觀察樣品的內(nèi)部多層結(jié)構(gòu)、結(jié)晶狀態(tài)、異物解析、層厚測量等提供有效的樣品前處理方法
更新時間：2025-10-27
產(chǎn)品型號：IM4000Ⅱ
瀏覽量：1788
PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀用于高質(zhì)量透射電鏡樣品的制備，它可精確定位減薄位置并對工藝參數(shù)進行精確控制
更新時間：2025-10-27產(chǎn)品型號：PIPS Ⅱ瀏覽量：1015
AutoMet系列研磨拋光機專為嚴苛的生產(chǎn)實驗室環(huán)境而設(shè)計
更新時間：2025-10-27產(chǎn)品型號：AutoMet 250 Pro瀏覽量：960關(guān)注公眾號
Copyright © 2026 北京盈思拓科技有限公司版權(quán)所有
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 備案號：京ICP備2024075675號-2
sitemap.xml
當前位置：
電鏡樣品制備